單晶爐(lu)爐室内的工作(zuo)溫度高達1400℃甚至(zhi)更高，故其(qi)殼體(ti)需爲夾層(ceng)結構(gou)以便(bian)通水(shui)冷卻(que)，主輔爐(lu)室之間(jian)，觀察口、抽氣口等處要(yao)施以靜(jing)密封(feng)，籽(zi)晶(jing)坩(gan)埚(guo)等運(yun)動部(bu)件處要施(shi)以動密封(feng)，這些都(dou)對提高(gao)單晶爐整體密(mi)閉性增加了(le)難(nan)度。同時也對真空密閉性(xing)能的(de)檢驗提(ti)出了更(geng)高的要求。

    鑒于(yu)奧氏體不鏽鋼(gang)防鏽(xiu)、強度(du)高、塑(su)性及韌性好、焊(han)接性(xing)能優良、順磁性(xing)、導(dao)熱導電(dian)性低等特點，幾(ji)乎所有的單晶(jing)爐爐(lu)室都(dou)采用(yong)00crl8ni9ti(sus304l)不鏽(xiu)鋼材料，采(cai)用鎢(wu)極氩弧焊(han)(rng)或熔(rong)化極氩弧(hu)焊(mig)。

    制造過(guo)程中(zhong)對單(dan)個(ge)零件的(de)檢驗，主要是對采用(yong)焊(han)接(jie)工藝(yi)零件焊縫的檢(jian)驗，防(fang)止焊接過(guo)程中的虛焊漏(lou)焊，杜(du)絕裂紋氣(qi)孔，及時發現問題采取補救措(cuo)施。

    外觀檢(jian)驗法(fa)

    對焊接(jie)焊縫最(zui)簡單(dan)的檢(jian)驗方(fang)法是外觀檢驗(yan)，用肉眼或低(di)倍(bei)(小于20倍(bei))放(fang)大鏡對焊縫表(biao)面缺(que)陷進行檢查。外(wai)觀檢驗(yan)之(zhi)前，焊縫的(de)表(biao)面污物(wu)應清除幹淨。外(wai)觀檢(jian)驗的主要内容是檢查焊(han)縫(feng)的(de)尺寸是否(fou)符合要求，是否(fou)有咬口(kou)、焊瘤、表面氣孔(kong)、表(biao)面裂縫等(deng)缺陷。對檢(jian)查出的(de)焊接缺陷，須及(ji)時修補後，再次進(jin)行檢驗。外觀檢驗隻(zhi)能發現表面宏觀(guan)的缺陷。

    着色(se)檢驗法

    着色(se)檢(jian)驗法的原理是(shi)用着色(se)劑來顯(xian)示缺(que)陷。着色檢(jian)驗不需專門裝(zhuang)置，隻(zhi)要配置适(shi)宜的着色(se)劑、顯(xian)現粉(fen)，即可獲得(de)檢驗結果。其工(gong)作原理是基于(yu)毛細(xi)管(guan)作用來實現的。先(xian)用合(he)适的溶劑(ji)将焊(han)縫清洗(xi)幹淨，并讓(rang)其幹(gan)燥，接着噴上(shang)着色(se)劑(ji)，等(deng)待一段時(shi)間，流(liu)動性和滲透性(xing)良好的着色劑(ji)便滲入到焊件(jian)表面的縫(feng)隙(xi)中(zhong)，然後将焊件表(biao)面再次擦拭幹(gan)淨并(bing)噴上顯現(xian)粉，侵(qin)人(ren)焊(han)件縫(feng)隙中的(de)着色劑(ji)，則由于毛(mao)細管(guan)現象上滲到顯(xian)現粉(fen)中來(lai)，呈現出(chu)缺陷的形象(xiang)。雖然着色檢驗也隻能發現表面的缺陷，但根據着(zhe)色顯(xian)現出(chu)來的(de)大(da)小(xiao)可以(yi)幫助判定缺陷(xian)的大小，比(bi)其外觀檢(jian)驗效(xiao)果更(geng)好。

    x射(she)線檢(jian)驗法

    要對焊縫的内(nei)部缺陷(xian)進行檢(jian)驗，既準确又可(ke)靠的方法是x射線檢驗。利用x射線來檢驗焊縫(feng)的方法目前應(ying)用最(zui)廣泛的是(shi)照相法。這種方法就是在(zai)被檢驗焊縫的後面(mian)放置一張膠片(pian)，x射線從前(qian)面透(tou)人。當(dang)x射線(xian)經過被檢(jian)驗(yan)的焊縫後(hou)，由于(yu)焊(han)縫金(jin)屬和焊縫(feng)缺陷的密度不同，對(dui)x射線(xian)的(de)能(neng)量衰(shuai)減和吸(xi)收不同(tong)，而到(dao)達膠片上(shang)的x射(she)線強(qiang)度也不同，膠(jiao)片(pian)的感(gan)光程度不一樣(yang)，經過顯(xian)影後得(de)到的底片黑化(hua)度也(ye)就不同(tong)，有(you)缺陷處x射(she)線吸收少，透過的x射(she)線強(qiang)度較(jiao)大，底(di)片感(gan)光較強，顯(xian)影比較黑；無(wu)缺陷處(chu)底片(pian)感光(guang)則較弱，顯影後(hou)呈淡白色。這樣，觀(guan)察底片(pian)上的(de)影像就能發現(xian)焊縫有無(wu)缺陷及缺陷(xian)的種類(lei)、大小和位置。

    水壓檢驗

    對單晶(jing)爐中(zhong)殼體(ti)爲(wei)夾層結(jie)構的零件(jian)，除采用上(shang)述方法外(wai)，還可以采(cai)用水(shui)壓法檢驗(yan)夾層是否有缺(que)陷。水壓法檢驗(yan)是在單(dan)晶爐殼(ke)體上留(liu)一(yi)個入口用(yong)水(shui)将夾層(ceng)灌滿，并堵好其(qi)餘的出口(kou)，用水(shui)泵把夾層内的(de)水壓(ya)提高到3．2kg／cm2左(zuo)右，進(jin)行強壓試(shi)驗，并維持(chi)15min以上(shang)，壓力不(bu)能(neng)有下降，同時檢查焊(han)縫上是否有水滴或水迹出現(xian)，如果出現則表(biao)明該處有滲漏(lou)缺陷，應做出标(biao)記，以(yi)便修補。水(shui)壓法檢驗方法簡單(dan)，容易找(zhao)出(chu)缺陷的具體位置，不(bu)過其最小(xiao)可檢漏率(lü)隻能達(da)到(dao)10“pa·l／s，對極其微(wei)小的缺陷(xian)就無(wu)能爲力了(le)。

    氦質(zhi)譜檢驗法(fa)

    用于(yu) 單晶(jing)爐(lu) 的真空殘餘氣(qi)體(ti)分析(xi)的質譜(pu)計都可(ke)以用來檢(jian)漏，特(te)别是用氦做示(shi)漏氣(qi)體的(de)質譜(pu)檢漏儀，是真空(kong)檢漏(lou)中靈敏度(du)最高、用得最普(pu)遍的一(yi)種(zhong)檢漏儀器，其最小可(ke)檢漏率能(neng)達到(dao)10。11pa·l／s。目前(qian)的氦(hai)質譜檢漏儀(yi)基本上(shang)都是(shi)磁偏轉型(xing)的，其實(shi)質是一種對氦分壓變(bian)化有反應的儀(yi)器。單(dan)晶爐(lu)殼體(ti)夾層用氦質譜(pu)檢漏(lou)儀(yi)進行檢(jian)驗(yan)，首先要留～個入口接上真空(kong)管路，堵好殼體(ti)上其(qi)他(ta)的出口(kou)，再用輔助(zhu)真空泵抽(chou)真(zhen)空，真空(kong)度達(da)到10pa以下後，才能(neng)打開與之相連(lian)的氦質譜(pu)檢漏儀，然後用(yong)氦氣在疑(yi)有漏(lou)孔處(chu)進行噴吹，檢查檢漏儀指示是(shi)否(fou)有變化，如發現(xian)有(you)變化(hua)時，應(ying)再做(zuo)幾次(ci)複檢，确(que)定(ding)漏孔(kong)的具(ju)體位(wei)置。氦(hai)質譜檢(jian)漏的設(she)備都較昂貴，因(yin)此應盡可能采(cai)用其他較爲(wei)經(jing)濟的檢(jian)漏方法(fa)。